誘導金属センサー EVK ABAS ThinLine
インライン分別システム向け金属（鉄と非鉄）センサー
EVK ABAS ThinLineはインライン分別システムで金属（鉄と非鉄）を検知するための誘導金属スキャナーです。
空間分解能をもつこのセンサーは、ベルトコンベアの下に取り付けることでコンベアを流れる導電体の物質の情報を得ることができます。 生成されたバイナリ情報を使って、対応する I/O モジュールと排出ユニットを駆動することができます。
特に銅とアルミの感度はよく、食品パッケージのアルミコーティングの有無を確認するのに効果的です。
EVK ABASであれば、センサーフュージョンにより近赤外線ハイパースペクトルカメラであるEVK HELIOSやカラーカメラと協働することで、高速に様々な物質を材質ごとに分別することができます。
インライン向けハイパースペクトルカメラ EVK HELIOS
インライン向け近赤外線ハイパースペクトルカメラ。プラスチック選別機やカラーカメラでは判別が難しい異物検査などに最適。
EVK HELIOS シリーズは、プッシュブルーム（ラインスキャン）方式のハイパースペクトルカメラです。２次元的に近赤外スペクトルを収集することで、物体の化学的性質に基づいた非接触、非破壊検査が可能です。強力な処理回路よって、リアルタイム物質の定性、定量分析が可能なため、工場のラインに組み込むことも可能です。
主力製品のEVK HELIOS EQ32は、QVGA相当のInGaAsセンサーと高性能な回折格子を搭載しており、1バンド（ピクセル）あたり、3.125 nmの波長分解能で930から1700 nmまでのスペクトルが得られます。2.5 nmのスペクトル半値幅で分光するため、各バンドのメインデータは被ることがありません。
筐体内部の冷却機構により、優れた内部温度制御が可能となっており、高ダイナミックレンジの安定したデータを取得できます。筐体内部にオンボード処理用のDSPボードが搭載されており、フルフレームを最大446 Hzのフレームレートで高速に処理し、リアルタイムに1次微分や２次微分処理されたスペクトルデータに基づくイメージングが可能です。
画像処理開発ライブラリ 「Open eVision」
高精度・ロバストで順応性が高くパワフルな画像処理開発用ライブラリ ディープラーニングにも対応
EURESYS社の「Open eVision」は、画像処理・画像解析専用の信頼性、堅牢性、および柔軟性の高いソフトウェアツールです。Open eVisionには、C++および .NETアプリケーションに統合可能な一連のライブラリが含まれています。
■汎用ライブラリは、画像のフィルタリング、画像強調、ブロブ解析、パターンマッチング、配列、サブピクセル測定などの用途に対応しています。
■マーク検査ライブラリには、光学文字認識および1D/2Dバーコード読み取り用の機能が搭載されています。
■3Dライブラリには、レーザーライン抽出と補正機能、ポイントクラウドの処理と管理機能、および3Dオブジェクト抽出と測定機能が含まれます。
■ディープラーニングライブラリは、画像の分類とセグメンテーションに用いる畳み込みニューラルネットワークに基づく検査ライブラリです。
X線ラインスキャンカメラ／ボード
食品、産業、非破壊検査（NDT）、手荷物検査などに使用されるX線ラインカメラ
X-SCAN社のX線ラインスキャンカメラの中心には、CMOSシリコンイメージングディテクターアレイチップがあり、幅広いダイナミックレンジと、高い信頼性を実現します。
シンチレーターは、アプリケーションに合せて選択可能な為、Xを可視光に変換後、可視光をイメージングアレイによって検出し、感度・分解能がともに最適化されるようになっています。
アプリケーション開発のためのソフトウェア（API）や、サンプルコード、ドライバなども、各種とりそろえております。