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食品産業向け IO-Linkマスタ

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製品説明・スペック紹介

保護構造 IP69Kに対応したIO-Linkマスタ

食品用途向けの特殊な素材で出来ており、
食品生産ラインで求められる耐薬品性と保護構造 IP69Kに対応。
過酷な環境下でIO-Linkシステムの構築が可能です。
設定用ソフトウェアmoneo|configure との使用で、
工場全体のネットワーク構成を作成できます。
また、接続中のすべてのIO-Linkデバイスを検出し各パラメータを表示できるため、
リモートでの一括管理・設定が実現します。

<製品の特長>

特長① 保護構造 IP67/IP69K
特長② アクチュエータ出力電流は最大 2.0 A
特長③ 各ポートの電流制限、電源モニター機能
特長④ 設定用ソフトウェアmoneo|configure からIO-LinkマスタとIO-Linkデバイスの
    設定とモニタリング
特長⑤ IO-Linkマスタ 4及び8ポート、IO-Link Class Bポート対応

取り扱い企業

企業名
ifm efector株式会社同企業の情報・その他製品を見る
所在地
〒105-7104 東京都港区東新橋1-5-2汐留シティセンター4階
電話
03-6274-6980
Webサイト
サービス提供エリア
北海道・東北
北海道、青森県、岩手県、宮城県、秋田県、山形県、福島県
関東
東京都、神奈川県、埼玉県、千葉県、茨城県、群馬県、栃木県
東海
愛知県、静岡県、岐阜県、三重県
北陸・甲信越
山梨県、新潟県、富山県、石川県、福井県、長野県
関西
大阪府、京都府、兵庫県、滋賀県、奈良県、和歌山県
中国・四国
鳥取県、島根県、岡山県、広島県、山口県、徳島県、香川県、愛媛県、高知県
九州・沖縄
福岡県、佐賀県、長崎県、熊本県、大分県、宮崎県、鹿児島県、沖縄県

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エッジ測定センサ AS30シリーズ

反射型またはリフレクタ型でエッジコントロールや幅測定が可能 |最大50mmの幅広い測定エリア |エッジ検出、位置決め、幅測定、中心点測定の4つのアプリケーションを選べる |反射ミラーや反射シートを使用すれば透明ワークも測定可能 CE認証取得 ■最大50mmの幅広い測定エリア 幅広い測定エリアを使って、エッジの位置やエッジの範囲を測定可能です。また微妙なコントラストの差で検出させることも可能です。 スポット光をワークにあててティーチングするだけで、簡単に設定ができます。 ■4つのアプリケーション ①エッジ検出 ワークのエッジ位置を測定します。連続したシート材の蛇行制御に最適です。 ②位置決め あらかじめ設定した位置にワークが到着したら検出します。ワークの到着確認、位置決め用途に最適です。 ③幅測定 エッジとエッジの間の距離を測定して、ワークの幅を算出します。 ④中心点測定 エッジとエッジの間の距離を測定して、ワークの中心点を算出します。 ■反射ミラーや反射シートを使用すれば透明ワークも測定可能 たばこの外装フィルム程度の厚みなら確実に測定可能。 ■フルカラー TFTディスプレイ搭載 視認性が高く、設定や測定値のモニタリングが簡単に行えます。 段差やコントラスト差があればディスプレイに表示されます。 その後ティーチングするだけで、エッジの感度設定ができます。 しきい値も数値を見ながら設定できます ■IO-Link対応 上位機器から設定変更が可能。またセンサの内部温度や稼働時間など、現在の状態をモニタリングできるので予知保全にもお役立ちします。

解決できる課題

  • 品質向上
  • 自動化
  • IoT、DXの活用
  • 制御機器更新

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超高精度レーザ変位センサ CDXシリーズ

世界最高リニアリティ! |新開発イメージセンサ:ATMOS |ダイレクトにEthernet接続 |WEBサーバ搭載 CE認証取得 ■世界最高リニアリティを実現 カタログスペック「±0.015% F.S.※」をらくらくクリアできる世界最高のリニアリティ。 従来機に比べ、圧倒的な高精度測定を実現しています。 ※CDX-W30/-W85/-W150各機種の拡散反射設置にて。 測定条件として: ワーク角度:±0°、周囲温度:25℃(常温)、電源電圧:DC24V、サンプリング周期:50μs、移動平均回数:256、メディアンフィルタ:31、測定中心距離、標準対象測定物:可視光遮蔽性セラミック。またセンサヘッドは、アルミ治具にて固定して測定しています。 ●『リニアリティ』は「直線性」を意味し、実際の距離との誤差を表す数値。 ■先進の光学系と高剛性ボディ 超高精度測定のため新たに開発された専用設計の光学系と独立ベースユニット構造の高剛性ボディ。 精度と高速性を高次元で両立し、誤差の要因をシャットアウトすることに成功しました。 ■Neo LDレンズを搭載 測定対象から反射される光を受光素子上に高精度に結像するために、受光レンズをカスタム化。誤差の原因となるレンズ収差によるスポットのひずみを大幅に軽減することに成功しました。 Neo LD: Neo Low Dispersion

解決できる課題

  • 品質向上
  • 自動化
  • IoT、DXの活用
  • 制御機器更新

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