三次元画像計測装置
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検出・検査性能
（3D計測精度・認識範囲）
静止している商品の高さ計測を高精度で実施。測定対象領域を一度に三次元モデル化可能。計測領域は10～120mm、測定時間は1.5秒
精度・再現性
（位置検出の安定性）
高さ測定精度は視野の1/1000、平面測定分解能は視野の1/768に対応。微小凹凸の検出や高さ計測に活用可能
対応条件
（対象物形状・サイズ対応範囲）
静止している商品の高さ計測に対応。手作りサンプルの3次元データ化、微小凹凸の検出、高さ計測などに利用可能
設置・連携条件
（設置寸法／電源／ロボット連携）
検査・検品工程における3Dビジョンセンサーとして活用可能。静止状態の商品を対象に、測定対象領域を三次元モデル化
設定・切替のしやすさ
（品種切替・設定変更）
測定対象や検査目的に応じて、計測領域10～120mmの範囲で高さ計測に対応。サンプルの3次元データ化や微小凹凸確認に活用可能
保守・点検・安全
（校正・保守体制）
非接触での三次元画像計測により、対象物への接触を避けた検査に対応。高精度な高さ計測により、表面状態や形状確認に活用可能
特徴
静止している商品の高さを高精度に計測し、測定領域を一度に三次元モデル化できる装置。手作りサンプルの3次元データ化や微小凹凸の検出、高さ計測を支援
得意な分野・カテゴリー
パン・菓子
対象製品カテゴリー詳細
- 菓子パン
- クッキー
- チョコレート
- チーズケーキ
- マドレーヌ
- フィナンシェ
担当者からのおすすめポイント!
サンプルの3次元データ化や微小凹凸の確認を行いたい検査工程におすすめ。1.5秒の測定時間と高精度な高さ計測により、表面形状の確認に活用可能
ワイエムシステムズ株式会社は、画像検査装置や光計測装置を扱う企業。三次元画像計測装置は、静止商品の高さ計測を高精度で行い、測定領域の三次元モデル化を支援
製品説明・スペック紹介
この製品は静止している商品の高さ計測を高精度で行い測定対象となる領域を一度に三次元モデル化する事が可能です。
手作りサンプルの３次元データ化、微小凹凸の検出と高さ計測などに利用できます。
◆計測領域：１０～１２０ｍｍ
◆測定時間：１．５秒
◆高さ測定精度：視野の１／１０００
◆平面測定分解能：視野の１／７６８
取り扱い企業
- 企業名
- ワイエムシステムズ株式会社同企業の情報・その他製品を見る
- 所在地
- 〒600-8815 京都府京都市下京区中堂寺粟田町93番地京都リサーチパークSCB３号館
- 電話
- 075-315-0771
- FAX
- 075-315-1770
- Webサイト
- サービス提供エリア
-
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関連キーワード：
ビジョン センサ ２次元センサ ティーチング ３次元センサ
